粒度仪分类介绍

激光粒度仪

　　使用MIE散射原理的激光粒度仪假设测量的粒子是标准球体，不能测量粒子形态，大部分是离线粒度仪。

　　采用MIE散射原理的激光粒子系统由**开发的集中傅里叶变换光路和**自由拟合数据处理软件组成，可检测粒子大小和分布，涵盖毫米、微米、微米和纳米多波段。

　　用于测试粒子大小和分布的分布系统根据不同的测试要求分为湿分布系统、干分布系统和湿干综合分布系统。

　　散射、衍射是在光线照射到粒子上时发生的，其衍射和散射光强度都与粒子的大小有关。观察光的强度，应用Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论，得出粒子直径分布(激光衍射/散射法)，并用Mie散射理论计算。当灯光进入球形粒子时，会生成三种类型的灯光。**类是通过粒子曲面、粒子内部和粒子内部曲面的反射光。**种类型是通过粒子内部折射的光。第三类是表面的衍射光。这些现象与粒子的大小无关，都可以用散射光处理。

　　一般来说，激光粒度仪光散射现象可以通过Maxwell电磁方程用严格解的Mie散射理论来解释。但是实际使用太复杂，为了获得实际光的强度，可以基于入射波长和粒子半径R的关系，即R小于时的Rayleigh散射理论。当r大于时，Fraunhofer衍射理论。使用上述理论时，考虑到光的波长和粒子直径的关系，不同领域要使用不同的理论。

　　粒子大小大于波长时，由Fraunhofer衍射理论得到的衍射光强与Mie散射理论得到的散射光强度大体一致。因此，可以用Fraunhofer衍射理论作为Mie散射理论的近似值。这时光散射(衍射)的方向几乎集中在前方，其强度与粒子直径的大小有关，有很大的变化。也就是说，它表示粒子直径的**光强谱，通过求解粒子的光强分布(散射谱)可以确定粒子直径。波长接近粒子直径时，不能用Fraunhofer的近似值来表示散射强度。这时有必要根据Mie散射理论进一步讨论。Mie散射中的散射光强度由入射光波长、粒子直径、粒子和介质的相对折射率决定。[1]

　　颗粒图像仪

　　拍摄粒子照片后，可以对照片进行分析，测量粒子形态，从而进行现场实时在线测量。

　　粒子图像计有静态和动态测试方法。

　　利用静态改造的显微镜系统，可以在计算机屏幕上直观地反映粒子样品的图像，并结合相关的计算机软件计算粒子大小、形状、总体分布等属性，并将测试结果输出到报告中。动态方式具有形态和粒度分布的双重分析能力。通过重新配置新的循环分布式系统和软件数据处理模块，解决了静态颗粒图像仪繁琐的样品制作、样品代表不良、粒子粘合等缺陷。

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