高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪：精确测量低电泳迁移率体系的创新工具

来源：美国布鲁克海文仪器公司 2025年04月27日 07:14

　　在科研和工业生产的众多领域中，对微观粒子表面电荷特性的精确测量是至关重要的。然而，传统的测量手段在面对低电泳迁移率体系时，往往力不从心，难以满足高精度测量的需求。正是在这样的背景下，高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪应运而生，以其杰出的性能和精确度，成为了当前测量低电泳迁移率体系Zeta电位的选择工具。

　　高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪结合了电泳原理和光散射技术，实现了对微观粒子表面电荷特性的高精度测量。通过测量带电颗粒或分子在电场下的电泳运动速度和方向，该仪器能够推算出颗粒或分子表面的电荷密度和电位。此外，其采用的硬件PALS（相位分析光散射）技术，相较于传统的电泳法，具有更高的灵敏度，能够在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近等复杂测量条件下，准确检测出样品的Zeta电位。

　　除了精确的Zeta电位测量，该仪器还具备出色的粒度分析能力。其粒度检测原理基于动态光散射（DLS）法，可检测范围广泛，从几纳米到数十微米不等，适用于不同尺寸的颗粒及其混合物的分析。这一功能使得科研人员能够更全面地了解样品的粒度分布和表面电荷特性，为深入研究物质性质提供了有力支持。

　　值得一提的是，该仪器的操作简便快捷，无需过多的专业知识和技能。同时，其测量速度快，通常只需数分钟即可完成一次测量，大大提高了科研效率。此外，该仪器还具备多样品自动连续测量的能力，进一步满足了科研和工业生产中的大规模测量需求。

　　综上所述，高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪以其杰出的性能和精确度，成为了当前测量低电泳迁移率体系Zeta电位的创新工具。在未来的科研和工业生产中，它将发挥更加重要的作用，推动相关领域的技术进步和创新发展。

　　最后，展示一组高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪的外观图片，以便您更好地了解它！

免责声明

凡本网注明“来源：仪表网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-仪表网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：仪表网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源（非仪表网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。