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高真空冻干西林瓶密封性1μm检测限

来源:山东普创工业科技有限公司   2025年05月06日 14:28  

 针对冻干粉针密封性,目前国内常用真空衰减或压力衰减法进行检测,在实际应用中,通常采用3μm的检测限,而这种微泄漏会导致包装顶空发生改变,包括压力、氧气、水汽,使得产品的稳定性发生改变。对于高真空冻干西林瓶,由于瓶内外压差大,非常微小的泄漏都会导致顶空显著改变。

因此,需要找到一个高度灵敏的包装密封性检测技术来替代现有的真空/压力衰减法。而我们公司目前检测极限可以检测≥1um,bai分百检出。

检测仪器推荐:MLT-V100微泄漏无损密封测试仪

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MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准梱测方法-真空衰减法》   标准研发。与业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。

测试原理:

通过标准腔与测试腔的压力比对,来判定测试腔是否存在气体泄漏。

基准容器和被测容器都是确保密封不存在泄漏的,将试样放入被测容器后,由于试样的气体泄漏导致被测容器的压 力变化,通过差压传感器检测到压力的变化量,再通过公式计算可推导出泄漏孔径和泄漏流量。

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