超声波探伤仪的探头用法

超声波探伤仪的探头使用方法
方法一、并列式：两个探头并列放置，探伤时两者作同步移动。但直探头作并列放置时，通常是一个探头固定，另一个探头移动，以便发现与探测面倾斜的缺陷，如图a)所示。分割式探头就是将两个并列的探头组合在一起，具有盲区小、较高的分辨能力和信噪比，适用于薄试件，近表面缺陷的探伤。
方法二、交叉式：两个探头轴线交叉，交叉点为要探测的部位，如图b)所示。此种探伤方法可用来发现与探测面垂直的片状缺陷，在焊缝探伤中，常用来发现横向缺陷。
V型串列式
两探头相对放置在同一面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波刚好落在另一个探头的入射点上，如图c)所示。此种探伤方法主要用来发现与探测面平行的片状缺陷。
K型串列式
两探头以相同的方向分别放置于试件的上下表面上。一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波进入另一个探头，如图d)所示。此种探伤方法主要用来发现与探测面垂直的片状缺陷。
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