这种能量差异会直接影响材料老化速率:某光伏企业测试数据显示,同一批 EVA 胶膜样品,在 15cm 高度测试时 72 小时出现黄变,而 25cm 高度下需 96 小时才出现相同程度老化。若未按标准统一高度,不同批次样品的老化数据将失去可比性。
同时,高度变化还会干扰箱内温度场。样品架过矮时,易贴近氙灯下方的高温区,导致样品表面黑板温度比设定值偏高 3-5℃;过高则可能因远离加热元件,温度偏低。这种温度波动会叠加光照影响,加剧材料老化的 “局部差异”,如同一批涂料样品可能出现边缘变色轻、中心变色重的现象。
匹配测试标准:按 ISO 11341、ASTM G155 等标准要求,多数试验需将样品架置于 “光源主光束覆盖区”,如某标准明确规定 “样品表面与滤光片距离需保持 25±2cm”。
匹配样品尺寸:测试小型样品(如芯片封装件)时,可适当降低高度以聚焦能量;测试大面积样品(如卷材涂层)时,需按设备推荐的 “均匀光照区间” 调整,避免边缘样品处于能量薄弱区。
匹配设备校准参数:氙灯老化试验箱的校准报告中通常标注 “高度下的光照均匀度数据”,日常测试应以此高度为基准,偏差不宜超过 ±1cm。
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