粉末XRD衍射仪开展材料结构分析的流程指南

　　在材料科学研究中，粉末 X 射线衍射（XRD）仪是剖析材料晶体结构的重要利器。它以布拉格方程为理论基石，通过捕捉 X 射线与样品相互作用产生的衍射信号，揭开材料微观结构的神秘面纱。

　　样品制备是分析的首要步骤。将材料研磨成均匀细粉，粒度控制在微米级。过粗的颗粒会阻碍 X 射线穿透，过细则可能出现择优取向，影响结果准确性。研磨后，将粉末填入样品架凹槽，压实刮平，确保样品均匀分布。

　　仪器参数设置关乎数据质量。X 射线源常用 Cu 靶，设定合适的管电压、管电流，以稳定激发 X 射线。同时，合理选择扫描范围、扫描速度和步长，既能覆盖常见晶体衍射峰，又能保障图谱分辨率。

　　数据采集时，将样品架精准安装在校准后的样品台中心，启动仪器收集衍射数据。采集过程中，需保持环境稳定，防止震动、电磁干扰影响数据准确性。

　　数据分析是获取结构信息的关键。借助专业软件，如 JADE，对原始图谱进行背底扣除、平滑处理，提高图谱清晰度。通过与 PDF 卡片数据库比对衍射峰位置和强度，确定样品物相组成。再依据衍射峰特征，分析晶格参数、晶体结构对称性，实现对材料结构的深度解析。

　　粉末 XRD 衍射仪以科学原理和规范流程，为材料结构分析提供精准依据，推动材料科学领域不断向前发展。