激光光束分析仪LS-2000型/BE-410型

激光光束分析仪

   LS-2000型                     BE-410型

LS-2000型

主要功能：

    可以获取和分析激光光斑光强的二维分布   
    获取激光光斑光强的三维分布图（任意方位、俯仰角）  
    光斑直径（按半高全宽、1/e2、刀口法3种定义）    
    高斯拟合        坐标轴旋转选取光斑主轴    
    连续采集       脉冲激光的软触发 

图像采集卡zui多可接3路图像探测器， 软件亦可对来自不同探测器的信号方便切换、独立处理

系统构成

  1. 基本系统： 图象采集卡，用于采集来自光图象探测器的模拟信号，将其变为PC机可接受的数字信号后送入PC机处理；  
   软件包：由“实时探测”，“存贮功能”，“分析测试”等几部分组成  
  2. 图象探测器： 标准配置：1/2英寸CCD（电荷耦合器件）探测器，光谱响应为可见及近红外波段（360nm－1100nm），涵盖大多数常用激光器的波长 。图像敏感面积为 6.4 x 4.8 mm2。 
  3.光学暗箱 :光学暗箱提供分光、衰减系统，使被测激光束无畸变地衰减到 
CCD的*响应区（线性工作区），并屏蔽来自多方面的杂散光。 
分光部分由石英楔形分束器、楔形反射器构成；衰减部分由固定衰减片组、连续衰减器构成。

主 要 特 点:

LS2000激光光束分析仪是基于PC机的“装配式”系统，可根据用户的需求及自有资源情况灵活配置。硬件可靠性高

屏幕界面为英文，配有中文说明书。

BE-410型

主要功能    
   ——获取、分析激光光斑光强的二维分布   
   —— 获取激光光斑光强的三维分布图（任意方位、俯仰角）  
    ——可测量X、Y方向的光斑直径（半高全宽FWHM直径及1/e2定义的直径）    
    ——高斯拟合        可通过旋转坐标轴选取光斑主轴    
    ——可采集、分析连续、各种重复频率、单次脉冲激光的光斑 
    ——可对平顶光斑进行分析，可测发散角 
    ——可保存全部有价值的图像和数据 
    ——数据库备有典型模拟光斑，供练习时调用 
    ——可于测量光斑的同时测量激光功率/能量（需备有激光功率/能量计，本系统不含）

系统构成: 
 BE-410激光光束分析仪采用数字CMOS图像探测器（1/1.8英寸，图像敏感面积为 6.6 x 5.32 mm2，像素1280X1024）， 无须图像采集卡，可配用笔记本电脑或台式电脑工作，中文界面。   
CMOS装在光学暗箱内，可以屏蔽来自各方面的杂散光。光学暗箱内提供分光、衰减系统，结合软件功能使被测激光束无畸变地衰减到CMOS的*响应区（线性工作区）。

光学暗箱可沿光学导轨滑动，可测发散角测量等参数。光学暗箱还可相对导轨做横向和垂直方向的位置微调，以便于对光调节。

激光光束分析仪LS-2000型/BE-410型

激光光束分析仪LS-2000型/BE-410型