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仪表网>全部分类 >测量/计量 >光学测量 >显微镜/望远镜 更新时间:2024-07-24 返回产品中心
显微镜/望远镜

望远镜是一种利用透镜或反射镜以及其他光学器件观测遥远物体的光学仪器。利用通过透镜的光线折射或光线被凹镜反射使之进入小孔并会聚成像,再经过一个放大目镜而被看到。又称“千里镜”。望远镜的个作用是放大远处...

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显微镜/望远镜

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  • 大倾角超清纳米共聚焦测量

    VT6000大倾角超清纳米共聚焦测量显微镜用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。它是基于光学共轭共焦原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。
  • 瑞士EROWA显微镜ER-032464

    瑞士EROWA显微镜ER-032464附带尖头检查针
    确定复杂轮廓的尺寸,在带或不带 C 轴的机器上校准工件。
  • 清和光学制作所SWIR-5200

    清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL
    半导体内部观察显微镜SWIR-5200,双目体视显微镜,变倍双目体视显微镜SKZ系列,SKZ-2(2+60+13+20+40-C),SKZ-4(2+60+13+25-B+40-C),SKZ-1(2+60+13+20),SKZ-5(2+60+19-A),SKZ-6(2+60+13),测量显微镜SMJ-5
  • 探针显微镜PS-888清和光学

    探针显微镜PS-888清和光学制作所SEIWA OPTICAL
    探针显微镜,高分辨率显微镜,高放大倍率显微镜PS-888,PS-888L,PS-888-TRI
  • 清和光学制作所MS-200-TWL

    清和光学制作所MS-200-TWL相机显微镜SEIWA OPTICAL
    相机显微镜,MS-200-TWL,MS-200-TWL-RV,MS-200-TWL-TR,MS-20-TCD18,M.Plan APO1.5XHR,M.Plan APO2.5XHR,M.Plan APO5XHR,M.Plan APO10XHR,变焦镜筒M.PlanAPO2.5XHR,M.PlanAPO5XSB
  • 共聚焦显微镜测量粗糙度的

    VT6000共聚焦显微镜测量粗糙度的仪器采用3D捕获的成像技术,它通过数码相机针孔的高强度激光来实现数字成像,具有很强的纵向深度的分辨能力。它基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析,一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。
  • 共聚焦激光显微镜品牌

    VT6000系列共聚焦激光显微镜品牌是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析的精密光学仪器,一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。
  • 高分辨率共聚焦显微镜

    VT6000系列高分辨率共聚焦显微镜可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。
  • 共聚焦工具显微镜

    在材料生产检测领域中,共聚焦工具显微镜测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。
  • 白光干涉仪显微镜

    SuperViewW1白光干涉仪显微镜应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中,可以说只有白光干涉仪才能达到微型范围内重点部位的纳米级粗糙度、轮廓等参数的测量要求。
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