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硅芯片检查显微镜

硅芯片检查显微镜
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产品型号LW500E

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更新时间：2018-05-15 14:54:13浏览次数：1101次

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产品简介
用途：广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。

详情介绍

技术参数：
1、三目镜：转轴式，倾斜30°包括检偏振片
2、大视野：WF10X( 18mm)
3、平场分划：10X(0.10mm/格值)
4、平场物镜：PL5X，PL10X，PL20X，PL40X，PL80X
5、载物台尺寸：274＊274mm 有快速移动装置
6、移动范围尺寸：200 ＊ 200mm
7、转换器：五孔 滚珠内定位内弯
8、照明系统：落射照明 6V/20W、卤素灯、亮度可调带起偏振片落射照明
选配件：300万像素数字彩色摄像头，47万像素彩色摄像头，采集卡，测量软件，分析软件，数码相机等

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