Plasma 3000双向观测全谱ICP

 Plasma 3000双向观测全谱ICP可广泛适用于冶金、地质、材料、环境、食品、医药、石油、化工、生物、水质等各领域的元素分析。

• 垂直火炬，双向观测，冷锥消除尾焰，具有更宽的动态线性范围和更低的背景。
• 自激式固态射频发生器，高效稳定，体积小巧，匹配速度快，确保仪器的高精度运行及优异的*稳定性。
• 高速面阵 CCD 采集技术，单次曝光获取全部谱线信息，真正实现“全谱直读”。
• 功能强大的软件系统，简化分析方法的开发过程。应用工程师加入设计团队，为用户量身打造简洁、舒适的操作体验。

 Plasma 3000双向观测全谱ICP仪器特点：

系统 

径向观测与轴向观测设计，适应亚 ppm 到高含量的元素测量。 中阶梯光栅与棱镜交叉色散结构，使用 CaF2 棱镜，提高光路传输效率。 优化的光学设计，采用非球面光学元件，改善成像质量，提高光谱采集效率。 光室气体氛围保持技术，缩短光室充气时间，提高紫外光谱灵敏度及稳定性，开机即可测量。 包围式立体控温系统，保障光学系统*稳定无漂移。

光源 

自激式固态射频发生器，高效稳定，体积小巧，效率高，匹配速度快，能适应各种复杂基体样 品及挥发性有机溶剂的测试，均能获得优异的*稳定性。 垂直炬管的设计，具有更好的样品耐受性，减少了清洁需求，降低了备用炬管的消耗。 冷锥消除尾焰技术，降低自吸效应和电离干扰，从而获得更宽的动态线性范围和更 低的背景，保证准确的测量结果。 具有绿色节能待机模式，待机时降低输出功率，减小气体流量，仅维持等离子体运行，节约使 用成本。

简洁的炬管安装定位设计，快速定位，精确的位置重现。 实时监控仪器运行参数，高性能 CAN 工业现场总线，保障通讯高效可靠。

进样系统 

简洁的炬管安装设计，自动定位炬管位置，精确的位置重现。 仪器配备系列经过优化的进样系统，可用于有机溶剂、高盐 / 复杂基体样品等的测试。

使用可拆卸式或一体式炬管，易于维护，转换快速，使用成本低。 使用质量流量控制器控制冷却气、辅助气和载气的流量，保障测试性能*稳定。 多通道 12 滚轮蠕动泵，提升样品导入稳定性。

检测器 

大面积背照式 CCD 检测器 , 全谱段响应，高紫外量子化效率，抗饱和溢出，具有极宽的动态范 围和极快的信号处理速度。 一次曝光，完成全谱光谱信号的采集读取，从而获得更为快速、准确的分析结果。 同类产品中大靶面尺寸，*像素，单像素面积 24μm X 24μm，三级半导体制冷 , 制冷温 度 -30℃，具有更低的噪声和更好的稳定性。

软件系统

人性化的界面设计，流畅易懂，简便易用，针对分析应用优化的软件系统，无须复杂的方法开发， 即可快速开展分析操作。

丰富的谱线库，智能提示潜在干扰元素，帮助用户合理选择分析谱线。 轻松的观测方式设置，直观的测试结果显示。

安全防护

*电磁屏蔽，减少电磁辐射 连锁门保护，避免用户误操作可能带来的风险 防紫外观测窗

技术参数：

分析性能

检出限：亚 ppb- ppb 短期稳定性：RSD ≤ 0.5%（500LOD） *稳定性：RSD ≤ 1.0%（4h，500LOD）

光 源

自激式固态射频发生器，功率连续 1 瓦可调 震荡频率：27.12MHz

输出功率：500W-1600W 功率稳定性：≤ 0.1%

仪器规格

尺 寸：宽 x 深 x 高（106cm x 67cm x 75cm） 重 量：约 180kg

光学系统

分析谱线范围：165-870nm

分  辨  率： 0.006nm@200nm 光室恒温：38℃ ±0.1℃

CCD 像素：1024x 1024

单像素面积：24μm x 24μm

工作环境

实验室湿度环境：相对湿度 20%~80% 氩气纯度：不小于 99.95%

排 风：不小于 400 立方米 / 小时

电 源：200V~240V AC 单相；50Hz~60Hz；4kVA