牛津镀层膜厚仪-测厚仪 返回列表页

  一、牛津镀层膜厚仪它的性能很强大，主要的特点是：可以测量元素范围在钛Ti22-铀U92.测量精度高，测试过程稳定性好，测试结果精度达到了微英寸。这个也是无损测量的，测量过程时间很短，10几秒就可以出结果。测量也有预览功能，牛津镀层膜厚仪配备了高分辨彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍，可根据客户要求配备50倍，100倍的。还有*的系统安全性，简单的用户界面只向日常操作员设定有限的*，主管人员才可以进行系统维护，系统可以自动生成操作员的使用记录，还可以自动锁定功能，防止没有*的操作，还有很多安全锁。总之功能很强大。测试产品也很简单，把被测试的产品放置在样品台上，一键完成视频聚焦，再点绿色GO，就可以一键完成测量，几秒内就能显示结果，测试结果可以一键导PDF,Exce。

  二、牛津镀层膜厚仪镀层及镀后处理三个阶段。工艺要求 1. 镀层与基体金属﹑镀层与镀层之间，应有良好的结合力。 装饰性电镀工艺程序 2. 镀层应结晶细致﹑平整﹑厚度均匀。 3. 镀层应具有规定的厚定和尽可能少的孔隙。 4. 镀层应具有规定的各项指标，如光亮度﹑硬度﹑导电性等。 5. 电镀时间及电镀过程的温度，决定镀层厚度的大小。

  三、牛津镀层膜厚仪X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/
镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于
Windows 7中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化
控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入
数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、
数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。