矿石分析仪
EDX 5500B X射线荧光分析仪是利用XRF技术解决复杂成份中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；采用SDD硅漂移探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
台式X射线荧光分析仪 能量色散EDX光谱仪的型号：EDX 5500B
X光管：Rh靶材；50W；
高压：50KV；1mA
探测器：SDD（硅飘移探测器）
配置真空装置，包括真空泵
测试元素：S、P、Mn、Fe、Cr、Ni、Si、Al、Ca 等等
X射线荧光分析仪的基本原理：
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或*效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学意义表达如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定性分析和定量分析
产品技术指标：
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
单样品真空腔体
计算机、打印机
SDD硅漂移探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
精准的升降平台
加强的金属元素感度分析器
真空泵（可选）
压片机（可选）
工作环境：
1、设备合理的工作环境，首先是不要在有电机、振动、电磁、高压或有高频率烧电焊器的地方安装设备，这样会干扰我们设备或造成设备不能正常工作。
2、温度：恒温在250C左右，范围超过10C以上影响大，所以要在温度适合的地方做测试。建议采用空调房。
3、湿度：要在湿度均衡的地方做测试。不能超过90%的湿度。
4、灰尘容易腐蚀电路板，所以设备要保持干净，工作室也同样要保持干净。
5、雷电天气应关掉电源，因为闪电会直接影响设备的正常运作。
应用领域：
金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
RoHS检测分析、卤素检测分析、玩具皮革等八大重金属测试
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
土壤中元素含量分析
水泥元素分析
固危废中的P、S、Cl以及重金属分析
油品中硫含量分析
各种有色金属合金、冶炼品，矿渣，炉料的分析
非金属氧化物、石灰石、钛白粉等复杂材料的分析
