美国ORTEC GEM/GMX 高纯锗（HPGe）γ能谱仪-X光电子能谱仪 返回列表页

美国ORTEC GEM/GMX 高纯锗(HPGe)γ能谱仪制造已有近半世纪的历史，多年来不断发展和提升探测器的性能和种类，可提供不同种类的探测器，相对效率涵盖5%至200%，满足不同领域的特殊应用。

美国ORTEC GEM/GMX 高纯锗(HPGe)γ能谱仪探测器：
GEM系列：P型同轴HPGe探测器
GMX系列：N型同轴HPGe探测器
GEM Profile系列：P型优化同轴HPGe探测器
GWL系列：井型HPGe探测器
SGD系列：核保障与无损分析HPGe探测器

多道分析器：
高的数据通过率：大于100Kcps
数字化稳谱、数字化自动极零、自动*化
用户可预置多个核素的MDA，在所有MDA满足时自动终止计数
道数：16K道
非线性：积分非线性：≤ ±0.025%；微分非线性：≤ ±1%
温度系数：增益:<35ppm/°C；零点:<3 ppm/°C

软件：
美国ORTEC GEM/GMX 高纯锗(HPGe)γ能谱仪的谱获取软件可识别并处理其所有形式和型号的MCA的信号，对于系统的一切参数设置在同一软件界面下完成；有非常灵活、完整的报告生成方式。
具体的功能包括能谱获取，能量刻度，*峰识别，编辑核素峰库，建立、存储和打印感兴趣区(ROI)，通过简单的“任务流”自动执行任务等。软件可实现的参数设置包括：增益细调、启动数字化稳谱、调节高压、显示实时间/活时间和脉冲宽度、设置上下甄别阈等。

其它附件：
便携式液氮罐
电制冷
国产低本底铅室：本底值：2.0cps(40%HPGe，全谱) 
                厚度：10cm低本底铅(可选15cm老铅)
                内腔尺寸：Φ30cm x 40cm