西安天光测控技术有限公司
西安天光测控技术有限公司
| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
|---|
品牌：天光测控晶体管热阻测试系统
型号：ST-Thermal-Rth
测量范围：4000A/9V
测量精度：±0.1%set+0.4%FS
测试对象：IGBTs / DIODEs / MOSFETs等19种材料
欢迎垂询029*8730*9001
ST-Thermal-Rth晶体管热阻测试系统
产品简介
品牌：天光测控晶体管热阻测试系统
l型号：ST-Thermal-Rth
l测量范围：4000A/9V
l测量精度：±0.1%set+0.4%FS
l测试对象：IGBTs / DIODEs / MOSFETs等19种材料
l欢迎垂询029*8730*9001或180*9364*3147
有意询价者，请在发送邮件时，将“发送人"设置为“姓名+Tel号码"！！！
系统概述
近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大量生产及低成本的方向。组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品可靠度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中*常用也是重要的考量标准之一就是热阻（thermal resistance）。
本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法）运用实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类IC（包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。
欢迎垂询029*8730*9001或180*9364*3147
系统特征：
● 可测试瞬态热阻，也可测试稳态热阻；
● 测试精度高
● 灵活的热敏参数M值测试，有两种测试方法:
(1)快速测试方法，只测试PN结常温下的结压降，再与(-273.15℃,1267mV)进行线性计算M值，此方法非常快速便捷，在1S以内就可以确定一种器件的热敏参数M值；
(2)依据*标准IEC60747-9和美军标MIL-750E的方法，用两点法确定热敏参数M值，可以用油槽恒温加热，也可以用空气恒温加热。
● 基于Windows系统的控制软件，测试条件可存储到器件文件库，测试效率高；
● 实时显示器件壳温测量温度曲线，绘制热阻曲线（从瞬态到稳态）、二次击穿曲线、结压降采样曲线、特定脉冲宽度加热下的安全工作区曲线，使用户轻松掌握热阻测试全过程。
●测试结果表格化显示，清楚明了，便于观察。可以存储为EXCEL格式，便于数据交流和阅读整理。可以打印，便于保存分析。
欢迎垂询029*8730*9001或180*9364*3147
系统配置：
| 项目 | 配置 | 组成单元-主机 | 组成单元-平台软件 |
| 功率 | 2A/10V | 采样单元 | 测量控制软件 |
| 测试延迟时间 （启动时间） | 1us | 数控单元 | 结果分析软件 |
| 采样率 | 1us | 功率驱动单元 | 建模软件 |
| 测试通道数 | 1-8个 |
| 测试器件 | IGBT；MOSFET；二极管；三极管；可控硅；线性调压器等19种材料 |
| 测试功能 | 功能备注 |
| 瞬态阻抗 | 从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据 |
| 稳态热阻 | 包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后，热量不断向外扩散，*后达到了热平衡，得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗 |
| 装片质量的分析 | 主要测试器件的粘接处的热阻抗值，如果有粘接层有气孔，那么传热就要受阻，这样将导致芯片的温度上升，因此这个功能够衡量粘接工艺的稳定性 |
欢迎垂询029*8730*9001或180*9364*3147
有意询价者，请在发送邮件时，将“发送人"设置为“姓名+Tel号码"！！！
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
瑞典进口ECO激光对中仪--昆山金斗云-电子/半导体检测仪器
fixturlaser eco ￥670
瑞典进口L560激光对中仪（无线蓝牙）-电子/半导体检测仪器
Easylaser L560 ￥670
瑞典 Fixturlaser Laser Kit 激光对中仪-电子/半导体检测仪器
laser Kit 面议仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
