本公司5月27日11时28分报道：ITC55100 半导体测试仪；（/c96719/products/d.html）
产品描述
ITC55100C 型号是新一代的行业标准系列 ITC55100 测试仪。该系统是围绕一个非常强大的微控制器设计的，它的时序分辨率为40ns，比代型号快20倍。其对峰值和零电流的响应时间提高了十倍。结合这一功能，可提高充电和雪崩时间以及报告的峰值排水电流的准确性。
ITC55100C 型号具有双栅驱动器作为标准功能。用户可以设置高达 30V 的总栅驱动器，并可以选择 30V 中有多少为正，有多少是负的。此功能可确保某些设备在雪崩期间保持状态。
ITC55100C 执行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多种类型的测试。方法 3470 通过强调 P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平来测试它们的能力。这是通过驱动未夹紧的电感负载的设备实现的。
•单/双设备测试
• N 通道，P 通道，混合
• 所有固态开关 • 无继电器
• 40ns 的时序分辨率
• 电流范围：0.1A 至 200A，0.1A 步长
• 阿瓦兰奇电压至 2500V
• 双栅驱动，带 30V 回转
• 新的高效开尔文电路
• 传统的 UIL 模式（通过 GPIB）
• 触摸屏程序输入/控制
• 波形捕获/显示
• 内部测试程序存储（20 个文件）
• 高速电感充电，缩短测试时间
• 可编程泄漏测试电压
• 阿瓦兰切/后泄漏测试
• 阿瓦兰奇坍塌测试
• 多功能测试处理程序控制
• 多达 15 个硬件排序箱
• 提高电压/电流精度
• 通过闪存下载进行软件更新
• 参数输入的密码控制
• 使用所有 ITC 电感负载箱运行
• 与 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 简单、完整的用户校准
• 内置自检
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