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宁波普瑞思仪器科技有限公司


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X荧光光谱分析仪 XAD

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更新时间:2022-03-27 12:51:47浏览次数:235次

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经营模式:生产厂家

商铺产品:96条

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产品简介

产品类型:能量色散X荧光光谱分析仪产品名称:光谱分析仪产品型号:XAD产品优势:XAD是一款全元素上照式荧光光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,可选配自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入*的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题

详细介绍

产品类型:能量色散X荧光光谱分析仪

产品名称:光谱分析仪

产品型号:XAD

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产品优势:

XAD是一款全元素上照式荧光光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,可选配自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入*的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

 

1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和*的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm²

2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm

3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测层Ni和第三层Ni的厚度)

4)配备高精密微型移动滑台,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5)装配Si-Pin半导体探测器,即便测量0.03mm²以下的样品,几秒钟也可达到稳定性

6)涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)

7)成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)

8)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

9)四准直器可选,最小测量面积可达0.03mm²

10)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%

 

仪器配置:

1. 微聚焦加强型X射线管:高稳定性X射线发生器

        —铍窗口,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽

        —50kV,1mA,高压和管流设定为应用程序提供更好的性能

        —符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射线标准,如有特殊要求,也可协商定制

2. 接收器:Si-Pin半导体探测器(也可选配大窗口SDD探测器)

        —窗口面积≥25mm²

3. 光路转换器

        —φ0.3mm(标配),φ0.2mm,φ0.5mm和□0.1*0.3mm多准直器可选

4. 定制专享高敏感镜头

        —1/2.7"彩册CCD高敏感可变焦镜头,全局快门,有效像素:1280*960,光学18-46X,数字放大20-200倍  

5. 恒压恒流快门式光闸

    —拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护

6. 移动平台

        —手动高精密XY移动滑台,移动范围100mm*150mm,精度0.01mm,可承重15KG

7. 全新一代高压电源

—性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率

8. 对流通风式过滤风冷

—*的散热系统配备,仪器即便全天候开启,都可保持恒温恒效

9. 随附标准片

        —免费提供十二元素片、五选二标准片( Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um)、其他规格(选配)

10. 其他配置

        —电脑一套、打印机、附件箱、电镀液测量杯(选配)


技术参数:

1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)

2. 成分检出限:5ppm

3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)

4. 涂镀层检出限:0.005μm

5. 最小测量直径□0.1*0.3mm(最小测量面积0.03mm²)

6. 对焦距离:0-90mm

7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*145mm

8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm

9. 仪器重量:100KG

10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm

11. XY轴工作台承重:15KG

12. 多元迭代EFP核心算法(号:2017SR567637)

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。


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