详细摘要： 这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数
产品型号：FPANG-SRM300所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言孚光精仪（中国）有限公司
孚光精仪（中国）有限公司
详细摘要： 这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数
产品型号：FPANG-SRM300所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
详细摘要： 这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量
产品型号：FRANG-SR100所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
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产品型号：FPTHE-FR-liquid所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
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产品型号：FPTHE-FR-pOrtable所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
详细摘要： 这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymerfilms(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜）和photoresistfilms（光致抗蚀剂薄膜,光刻胶膜,光刻薄膜,...
产品型号：FPTHE-FR-Thermal所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
详细摘要： 这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器，它采用微处理器电路直接计算出V/I数值，表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金...
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详细摘要： 这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等
产品型号：FPZEB-P-1E所在地：更新时间：2021-08-19 在线留言
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详细摘要： 这款磁场消除系统专业为扫描电镜,聚焦离子束FIB消磁或电磁屏蔽设计的消磁仪器和磁场补偿系统,有效屏蔽消除磁场噪声问题,为电子显微镜,电子和离子束实验,磁共振成像...
产品型号：FPSTEF-MR-3所在地：更新时间：2021-08-17 在线留言
详细摘要： 这款磁场屏蔽消磁仪MK-1用于MRI核磁共振和生物磁应用的单轴磁场消除和电磁噪音屏蔽消除,非常适合当磁场传感器不能放置在屏蔽空间内的应用
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详细摘要： 这款三维台阶仪是德国进口的高精度光学台阶仪器,也是一款光学表面台阶仪适合台阶高度测量,具有较低的进口台阶仪品牌台阶仪价格,适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标...
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详细摘要： 纳米干涉形貌仪nanoprofilometer是采用微纳干涉显微镜部分相干光的干涉技术制造的纳米轮廓仪和纳米形貌仪,可定量测量微米尺度和纳米尺度表面形貌轮廓,并...
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详细摘要： 近场扫描光学显微镜OM采用SNOM技术帮助用户获得的光学空间分辨率,具有原子力显微镜模式和光子计数模式的荧光和光学图像
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详细摘要： 范德瓦尔斯转移台VANDERWAALS是为半导体芯片不同材料在精确位置的堆积过程研究设计的范德瓦尔斯位移台
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详细摘要： 这款主动磁场屏蔽消磁系统是专业为电镜等电子束仪器屏蔽磁场干扰而设计的主动磁场屏蔽和主动消磁装置系统.用于为科学仪器装置免受磁场干扰影响的环境.主动磁场屏蔽消磁系...
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详细摘要： 量子效率测量系统是为晶体硅太阳能电池IQE内量子效率测量分析设计的内外量子效率测试测量系统,也可以测量EQE外量子效率和光谱反射
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