ROHS有害元素检测仪 返回列表页

技术参数  

探测器配置 

●高灵敏电制冷SiLi探测器技术,仪器免维护和*运行,寿命达15年以上（可选用：液氮SiLi 探测器） 

●*的分辨率： 电制冷SiLi 探测器 晶体面积15mm2 分辨率<155ev 

（可选用： 液 氮SiLi 探测器 晶体面积30mm2 分辨率<149ev） 

●超大SiLi 晶体,*的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒X-光管

●50KV,50瓦,*流端窗X-射线管,具有*束流。高稳定,寿命可达15年以上 

●多滤光片技术,8位滤光片可根据分析对象元素,有效探测.可清晰分辨相邻 

元素

数据采集 

● 全数字脉冲处理器技术,死时间达60%，以及优异的峰背比,*的提高分析速度及精度 

● 采用多道（32位4096道）脉冲分析器，*的提高分析精度及其速度 

● 超大样品室，可容纳305mm×389mm×66mm的样品增高室可选215mm或371mm 

● 全自动校准，自动监测，自动报警系统，*计算机控制 

● 镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术 

● 方便快捷的运输和移动 

● 高性能，操作简便WinTrace软件

主要特点

● 分析元素范围　Na－Ｕ 

● 分析元素的浓度范围　ppm— 

● 整机稳定性连续8小时测RSD<0.25% 

● 高级FP无标样分析软件，无标样条件下误差小于1%。减少对标样的依赖性 

● ROHS/WEEE检测时间100-120秒 

● 样品类型： 固体，液体，粉末，滤渣，镀层及其他

ARL QUANT''X 应用领域： 

●  应对RoHS & WEEE 指令分析    

●  各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量  

●  气溶胶颗粒滤膜， 刑侦以及痕量分析  

●  土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等  

●  营养添加剂 ,各种油品成份分析等  

●  磁性磁性介质和半导体，各种合金、贵金属成份分析