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镀层厚度测试仪器

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更新时间:2018-05-15 11:36:14浏览次数:849次

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技术参数 1.分析原理:能量色散X射线荧光分析法 2.分析元素:Si-UCd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型;Na-Uφ1.2mm/φ0.1mm切换方式型 3.检出下限:Cd/Pb/Hg/Br≤2ppm.4.样品形状:zui大460×360mm高150mm.

性能特点

1、上照式
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护

技术指标

元素分析范围从钠(Na)到铀(U)。
一次可同时分析zui多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1%。
*工作稳定性为0.1%。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

 
 
 

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