传感器性能测试台霍尔延时响应测试 返回列表页

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验比备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!

传感器性能测试台霍尔延时响应测试特点和优势：

超快300A/us上升沿；

可集成数字万用表、示波器；

可集成温箱，动静态参数一体化测试；

可定制各种穿心式、连接式夹具；

可测量开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门电流传感器；

单台设备Z大输出1000A；

0.1%精度；

产品应用

开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈电流传感器、磁通门；

武汉普赛斯仪表CTMS1000A传感器性能测试台霍尔延时响应测试集多种测量和分析功能一体，可晶准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快的达到300A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点，能实现零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量