高精度薄膜测厚仪 返回列表页

济南众测机电设备有限公司研发生产的高精度薄膜测厚仪THK-01适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试，还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测量，本测量仪器符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。

高精度薄膜测厚仪THK-01主要参数：
   通用名称：测厚仪
   测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）
   分辨率：0.1μm
   测试速度：1～25次/min
   测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
   重复性：0.3μm
   测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
   接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；
                   薄膜、纸张任选一种，非标可定制
   电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
   外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
   约净重：30Kg

匠心设计体现：
   1.测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量
   2.可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制
   3.测量支架采用具有高吸振特性、受温度变化极小的球墨铸铁一体成形，有效减轻了外界震动、温度变化对测试产生的影响
   4.进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性