当前位置:北京时代润宝科技发展有限责任>>涂层测厚仪>>德国菲尼克斯膜厚仪>> Surfix PFSurfix PF内置探头铁基统计型测厚仪
Surfix PF内置探头铁基统计型测厚仪
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数) |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体小面积 | 5mmX5mm |
基体小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
基体小厚度 | F型:0.5mm ,N型:50µm |
校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据统计(统计型) | 读数个数(多9999个),平均值,标准偏差,大值和小值 |
数据存储(统计型) | 多80个测量数值,可单独调出 |
数据值(统计型) | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃(可选配150℃) |
电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 |
仪器尺寸 | 107X50X25mm |
符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS |
操作语言 | 英语、德语或法语 |
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。