行业产品

  • 行业产品

上海纳嘉仪器有限公司


当前位置:上海纳嘉仪器有限公司>>反射膜厚仪>>膜厚仪F3-sX系列

膜厚仪F3-sX系列

返回列表页
参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号F3-sX系列

品       牌

厂商性质经销商

所  在  地上海

联系方式:销售查看联系方式

更新时间:2023-05-09 08:37:53浏览次数:247次

联系我时,请告知来自 仪表网

经营模式:经销商

商铺产品:53条

所在地区:上海上海市

联系人:销售 (销售)

产品简介

F3-sX系列膜厚仪F3-sX系列膜厚仪能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度不好;波长选配F3-sX系列使用近红外光来测量薄膜厚度,即使有许多肉眼看来不透光(例如半导体)

详细介绍

F3-sX 系列膜厚仪


F3-sX 系列膜厚仪能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度不好;


波长选配

F3-sX系列使用近红外光来测量薄膜厚度,即使有许多肉眼看来不透光(例如半导体)。 F3-s980 是波长为980奈米的版本,是为了针对成本敏锐的应用而设计,F3-s1310是针对重掺杂硅片、GaAs或InP等不透明基片与减薄片的优化设计,F3-s1550则是为了超厚的薄膜设计。

附件

附件包含自动化测绘平台,一个影像镜头可看到量测点的位置以及可选配可见光波长的功能使厚度测量能力薄至15奈米。



感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN

仪表网 设计制作,未经允许翻录必究 .      Copyright(C) 2021 https://www.ybzhan.cn,All rights reserved.

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~