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EDX-6000X荧光光谱仪能散型XRF

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更新时间：2023-06-24 09:30:01浏览次数：200次

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无锡泰瑞达仪器科技有限公司

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产品简介

台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：EDX-6000X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证

详细介绍

台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：

EDX-6000X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。

EDX-6000X荧光光谱仪基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。

EDX-6000X荧光光谱仪经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。

软件功能

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

采用内标校正，提高非定性式样测量精度

用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法

全自动定量分析报告简捷准确

自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示。

具有自动检测仪器工作状态的功能。

自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。

硬件

美国进口探测器，高速脉冲高度分析系统

美国SPELLMAN高压发生器

美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好

美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好

美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

尺寸＆重量

电源：550220V±10％ 50Hz

环境温度：10℃-28℃

环境湿度：≤70 ％RH(25℃室温）

产品优势

台式X荧光光谱仪非真空能量色散X荧光光谱仪：

无损检测

在无标准样品时亦可准确分析

测量时间比化学方法短，不需要辅助材料

计算机进行数据处理，分析快速准确

高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分

硅半导体探测器

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度

全自动定量分析报告简捷准确

自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示

具有自动检测仪器工作状态的功能

自动判别样品及自动分析

技术参数：

关键词：光谱仪标准发生器

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