成都太科光电技术有限责任公司
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INF25-LP盖板干涉仪产品型号：INF25-LP主要用于手机盖板、晶体、平行平板等双面抛光元件的透射及反射面型测试！
1.快速检测，测试时间短；
2.可接入自动化生产线；
3.适应多种测试。
手机盖板、平板玻璃等元件的透射面型检测；
小口径平面光学元件的面型测试。
测量方式：斐索干涉原理
通光口径：Φ12mm/Φ25mm
测试波长：635nm(半导体激光器)
对准方式：两点对准
对准视场：±2°
平面标准镜：材料：石英；面型精度PV：λ/20
相移解相方式：机械相移解相
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