HS2100F-涂层测厚仪-北京科威精益科技有限公司

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产品型号HS2100F

品牌

厂商性质生产商

所在地北京市

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更新时间：2018-05-15 15:37:02浏览次数：677次

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涂层测适用范围：HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

厚仪的详细介绍

可使用6种测头（F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02）进行测量；
三种校准方法：一点校准、二点校准、基本校准；
显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm）
1μm （测量范围大于100μm）
有两种工作方式：直接方式和成组方式
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图

测量范围：

（1） F400探头、N400探头：0—400μm
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm
（3）F10探头：0—10000μm
（4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头

测量精度：

不同探头精度要求不同
（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）
（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10）

使用温度：0～40℃ 外型尺寸：150×80×30m 重量：250g

功能	HS2100F	HS2100N	HS3100	HS4100
测量原理	磁性	涡流	磁性/涡流	磁性/涡流
测量范围	标准配置探头（F1/N1）：1～1250μm
测量精度	±（2%H+1）μm（零点校准） ±[（1～3）%H+1] μm（二点校准）
统计量	平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）
存贮和统计	15个测量值
测量精度	±（2%H+1）μm（零点校准） ±[（1～3）%H+1] μm（二点校准）
零点校准	√	√	√	√
二点校准	√	√	√	√
删除功能	√	√	√	√
自动关机	√	√	√	√
蜂鸣声提示	√	√	√	√
测量方式	√	√	√	√
欠压指示	√	√	√	√
错误提示	√	√	√	√
标准配置	主机 F1探头基体校准片说明书包装箱	主机 N1探头基体校准片说明书包装箱	主机 F1（N1）探头基体校准片说明书包装箱	主机打印机 F1（N1）探头基体校准片说明书包装箱
选配件	F1、F400、F10测头 N1、N400测头			通讯软件 F1、F400、F10测头 N1、N400测头

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