当前位置:杭州万深检测科技有限公司>>产品展示>>种子考种分析及千粒重仪>>小麦外观品质检测分析和面粉麸星检测
万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪仪器由光学成像系统、智能分析软件、电子天平组成。具有的自学习能力,实现人性化的“一键"式智能分析,并可交互修正个别的分...
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。