点刻痕易折安瓿偏光应力仪 返回列表页

点刻痕易折安瓿偏光应力仪产品应用
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点刻痕易折安瓿偏光应力仪测试原理
用于应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。

技术参数
仪器示值：0.1毫微米                     
测量精度：(双折射程差值) ：4毫微米
偏振场直径：150毫米
检偏振片旋转角度：360°
光场的光亮度：zui大值不少于：800勒克司
外形尺寸：220mm×370mm×480mm(长宽高)
重量：5Kg

标    准   
YBB00332002   YBB00162003   YBB60372012
 

以上产品信息由济南三泉中石实验仪器有限公司发布，济南三泉中石秉承客户*，为您提供全套的检测方案，感谢您的：

：李环环
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