台式超精密三维表面轮廓光学测量仪 返回列表页

Talysurf CCI Lite台式超精密三维表面轮廓光学测量仪

概述

       Talysurf CCI Lite 台式超精密三维表面轮廓光学测量仪是一台*的光学干涉仪，它采用了创新的，获得的相关相干算法，通过精密光学扫描系统来寻找相干峰与相位点。

技术特点

灵活性
      Talysurf CCI Lite 对于高精度的三维表面测量而言是无价的。通过采用安装在系统上的不同放大倍数的镜头，可以检测多种类型的表面；高度灵活的光学系统具有全自动工作台与多种自动测量模式。
能测量各种类型的表面
       Talysurf CCI Lite的一项主要特色还在于它的多功能性，无论是光滑的、粗糙的、曲面的、平面的或者台阶表面，只要反射率在0.3%到之间，都可以使用同一模 式进行测量，而不用担心模式选择的问题。可测量各种类型的材料，如玻璃、液体油墨、感光材料、金属、复合材料及粘膜等。

数据分析软件

通过通用的各种三维与二维表面参数来分析与量化表面。
●  垂直分辨率高达0.1 Å (0.01 nm)
●  噪音低于0.8 Å (0.08 nm) （针对实际测量）
●  标准数据测量点超过百万