梅特勒系列天平 XP微量天平返回列表页

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更新时间：2016-11-21 05:41:16浏览次数：230次

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梅特勒天平

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产品简介

XP26/XP56
采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
*可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
丰富的内置

详情介绍

型号	XP26	XP26DR	XP56	XP56DR
zui大称量值（g）	22	5.1/22	52	11/52
可读性（mg）	0.001	0.002/0.01	0.001	0.002/0.01
重复性（sd）（mg）	0.0025	0.002/0.008	0.006	0.002/0.014
线性误差（mg）	0.006	0.01	0.02	0.03
典型稳定时间（s）	3.5	3.5/2.5	3.5	3.5/2.5
秤盘尺寸（mm）	40*40	40*40	40*40	40*40