深圳市禾苗分析仪器有限公司
深圳市禾苗分析仪器有限公司
禾苗镀层测厚仪E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；采用小光斑设计，对大型PCB板小测试点精确定位，避免材质干扰；开放性可调样品台，应对各种大型PCB板，无需拆分即可直接测试.
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)；专注于镀层厚度测试；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；采用小光斑设计，对大型PCB板小测试点精确定位，避免材质干扰；开放性可调样品台，应对各种大型PCB板，无需拆分即可直接测试.
● RoHS检测：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）
● 卤素检测：Br（溴）、Cl（氯）
● 镀层测试：应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等
辐射保护
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
● 辐射标志警示
●仪器经第三方检测，X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于大件样品、异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试
● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率
● zui小光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点精确定位，避免材质干扰，测量结果更准确
● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；*设计
●电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术（HeLeeX ED Workstation V3.0）
● 分析元素：Na~U之间元素
● 分析时间：90秒
● 界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作
● 数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全
● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度
● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。
探测器
● 类型：X123探测器（*高性能电致冷半导体探测器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶体面积：25mm2
● *分辨率：145eV
● 信号处理系统：DP5
X射线管
● 电压：0-50v
● zui大电流;2mA
● zui大功率:50W
● 靶材：Mo
● Be窗厚度：0.2mm
● 使用寿命：大于2w小时
高压电源
● 输出电压：0-50Kv
● 灯丝电流0-2mA
● zui大功率：50w
● 纹波系数：0.1%（p-p值）
● 8小时稳定性：0.05%
摄像头
● 焦距：微焦距
● 驱动:免驱动
● 像素：500万像素
准直器、滤光片
● 系统：快拆卸准直器、滤光片系统
● 材质：多种材质准直器
● 光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
● 组合：多种滤光片（软件自动切换）、准直器组合
十字激光头
● 光斑形状：十字线
● 输出波长：红光650nm
● 光学透镜：玻璃透镜
● 尺寸：Φ10×30mm
● 发散角度：0.1-2mrad
● 工作电压：DC 5V
● 输出功率：<5mW
● 工作温度：－10～50℃
● 储存温度：－40～85℃
其它配件
● 开关电源：进口高性能开关电源
● 散热风扇：进口低噪声、大风量风扇
● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
●仪器重量：50kg
●供电电源：AC220V/ 50Hz
●zui大功率：330W
●工作温度：15-30℃
●相对湿度：≤85%，不结露
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
