详细摘要： 大型二次离子质谱 IMS 1280-HR?针对地质领域和环境科学分析专门而设计、注重原位分析?具有超高的灵敏度 ?U-Pb地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言深圳赛普思科技有限公司
深圳赛普思科技有限公司
详细摘要： 大型二次离子质谱 IMS 1280-HR?针对地质领域和环境科学分析专门而设计、注重原位分析?具有超高的灵敏度 ?U-Pb地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以...
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详细摘要： 高分辨率二次离子质谱NanoSIMS 50L1、专门针对同位素以及痕量元素的高空间分辨率的二次离子探针2、具有*的横向分辨率，痕量元素和同位素高灵敏度- 高空间...
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详细摘要： 二次离子质谱IMS 7f1、众多独立分析实验室的主力军2、通用磁扇区二次离子质谱仪：比飞行时间（TOF）SIMS要快，比四级杆 SIMS质量分辨率要高3、高灵敏...
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详细摘要： 三维原子探针显微术（3DAP），也称为原子探针断层分析术（APT），是一种具有原子级空间分辨率的测量和分析方法，它可以对不同元素的原子逐个进行分析，并给出纳米空...
产品型号：LEAP4000所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言
详细摘要： 透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描电子显微镜（ＳＥＭ）。与光学显微镜相比电子显微镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。
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详细摘要： 透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描电子显微镜（ＳＥＭ）。与光学显微镜相比电子显微镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像。
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详细摘要： 残余应力是消除外力或不均匀的温度场等作用后仍留在材料内的自相平衡的内应力。机械加工和强化工艺都能引起残余应力。X射线衍射残余应力分析仪是通过XRD测量晶体材料衍...
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详细摘要： 声学显微镜，学名是：扫描声学显微镜Scanning Acoustic Microscope，简称SAM。它是基于声波脉冲反射和透射原理工作的，只要声波信号在样品...
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详细摘要： 电子显微镜（electron microscope）是利用电子与物质作用所产生之讯号来监定微区域晶体结构，微细组织，化学成份，化学键结和电子分布情况的电子光学装...
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详细摘要： ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪是元素分析和结构分析的技术融合。ＸＲＦ是进行元素快速检测分析的有效手段，通过Ｘ射线轰击原子层外的电子使得电子在不同电子层跃迁，电子跃迁时会释...
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详细摘要： ＸＲＤ（Ｘ ｒａｙ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ）是晶体物质结构分析的基本和*手段，自然界中的晶体物质都具有自己特定的且*的结构，我们俗称晶体的指纹谱；ＸＲＤ使用Ｘ射...
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详细摘要： ＲＡＭＡＮ是使用拉曼效应进行物质分析的。光照射到物质上发生弹性散射和非弹性散射. 弹性散射的散射光是与激发光波长相同的成分.，此为瑞利效应；非弹性散射的散射光有...
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详细摘要： ＬＩＢＳ（Laser-Induced Breakdown Spectroscopy）是元素分析的前沿技术，通过使用高能量的聚焦脉冲激光束照射物质表面，使得照射点...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2018-05-15 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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