详细摘要： Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半...
产品型号：所在地：更新时间：2024-04-01 在线留言
北京东方中科集成科技股份有限公司
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详细摘要： Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半...
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详细摘要： 4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种的参数分析仪具有的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作...
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详细摘要： 2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增...
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详细摘要： X系列是一款专业应对各类芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为...
产品型号：所在地：更新时间：2024-03-30 在线留言
详细摘要： CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下， 实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电 测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。 通过设置真...
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详细摘要： C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。
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详细摘要： FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异， 支持多功能升级，产品功能丰富齐全。
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详细摘要： SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
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详细摘要： 吉時利的參數分析系统配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高质量仪器、电缆、测试夹具和软件。提供7种配置，每种配置都具有快速检查器件基本参数（例如击穿电压）...
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详细摘要： S500自动参数测试系统基于吉时利公司的高性能源表及电测技术，可完成各种直流、交流信号测试，可广泛用于半导体工艺制程的过程监控、重复性监控及器件检测领域。
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详细摘要： TH510系列半导体C-V特性分析仪创新性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，适...
产品型号：所在地：更新时间：2023-07-22 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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