北京东方中科集成科技股份有限公司
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ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有的成本优势。
加速科技 250Mbps高性能数字混合信号测试系统，根据系统资源配置可分为ST2516、ST2532、ST2564及ST2628四款产品。
ST2500系列产品支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合配置，实现较高机器利用率。系统业务板采用all-in-one模式（单板集成PEx32、PPMUx32、TMUx4、BPMUx4、DPSx4、AWGx1、DGTx1、CBITx8），对于小型芯片测试应用，具有的成本优势。对于特殊的测试需求，还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HSAWG、HSDGT、BlueTooth测试模块等。
ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试，提供专用的工厂界面，并拥有丰富的数据记录和分析工具。
ST2500系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。
| SCB | 系统控制板 | 实现整个模块板卡互联和控制 提供5个业务槽位，对外提供级联接口、调试串口 |
| DFB32 | 业务板 | 集成数字、模拟混合信号测试功能 32ch数字通道：250Mbps数据速率，每通道192M Vector存储深度，SCAN模式单SCAN Chain高达3GB;高速通信架构，Pattern加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发，提高并行测试效率；突破传统Format限制，由用户自定义波形，支持1024组timing set，4edge可调，输入输出自由转换 |
| 4ch DPS：输出电流±500mA，输出电压范围-3.25V to 8.4V，支持Gang模式 | ||
| 32ch PPMU：输出电流范围±40mA，输出电压范围-2V to 6.5V | ||
| 4ch BPMU：输出电流范围-60mA to 80mA，输出电压范围-2V to 9.25V | ||
| 4ch TMU：100MHz | ||
| 1ch AWG：16bit 2MSPS，波形存储深度64MB，单端输出 | ||
| 1ch DGT：16bit 1MSPS，波形存储深度64MB，单端输入 | ||
| 8ch CBIT：输出电压5V，驱动电流100mA | ||
| 4ch GPIO：通用IO接口，可以配置为I2C，SPI等低速接口 | ||
| 配置 | ST2516 | 1SCB+5业务板（DFB32） |
| ST2532 | 2SCB+10业务板（DFB32） | |
| ST2564 | 4SCB+20业务板（DFB32） | |
| ST2628 | 8SCB+40业务板（DFB32） |
根据测试资源要求，通过模块扩展，可以满足资源场景配置
| ST2516混合信号测试系统 | 160数字通道，160PPMU通道，20DPS |  |  |
|---|---|---|---|
| ST2532混合信号测试系统 | 320数字通道，320PPMU通道，40DPS |  |  |
| ST2564混合信号测试系统 | 640数字通道，640PPMU通道，80DPS |  |  |
| ST2628混合信号测试系统 | 1280数字通道，1280PPMU通，160DPS |  |  |
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