轮廓测定仪采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度
产品名称：
轮廓测定仪
产品应用：
轮廓测定仪采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和*材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。
技术参数：
垂直测量范围：27mm
垂直分辨率：<2nm
扫描速度：1m/s
横向分辨率：5nm
可视区域：400*600mm
技术参数：
垂直测量范围：27mm
垂直分辨率：<2nm
扫描速度：20mm/s
横向分辨率：0.1m
测量范围：150mm×150mm
产品特性：
1.采用白光轴向色像差技术，可获得纳米级的分辨率
2.测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高
3.尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
4.不受样品反射率的影响
5.不受环境光的影响
6.测量简单，样品无需特殊处理
7.Z方向max测量范围为27mm
8.测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)
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