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PCT加速老化试验箱/高压加速老化测试箱

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具体成交价以合同协议为准

产品型号

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地东莞市

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更新时间:2021-04-07 10:07:33浏览次数:385次

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PCT加速老化试验箱/高压加速老化测试箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

PCT加速老化试验箱/高压加速老化测试箱满足标准:

IEC60068-2-66
JESD22-A102-B
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB/T 2423.40-1997
及的试验条件

PCT加速老化试验箱/高压加速老化测试箱技术优势
*采用全自动补充水位之功能试验*中断.
饱和(湿度)与非饱和(85%湿度)自由设定。
双层内胆结构设计,防止试样的结露与潮湿,提高了试验的可靠性。
真空泵浦设计(开始运行时将锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性。
干燥设计,试验终止采用真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。
試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相关感測器的讀值來顯示控制的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
精准的压力/温湿度对照显示,*符合温度压力对照表要求。

参数规格:

型    号

TD-PCT-25

TD-PCT-35

TD-PCT-45

TD-PCT-55

TD-PCT-65

工作室尺寸       (D×L)cm

∮25×35

∮35×45

∮45×55

∮55×65

∮65×75

外箱尺寸         (W×D×H)cm

80×70×120

90×80×130

100×90×140

110×100×150

120×110×160

系统原理

通过蒸气加温加压;采用*的Packing技术箱体内压力越大时箱门就越紧

性   能

温度范围

+100℃~+135℃(饱和蒸气温度)

湿度范围

100%R.H(蒸气湿度)

温度精度

显示精度:0.1℃;波动度:±0.5℃;均匀度:±2℃

压力范围

1.5~3.0Kg/cm2(含1atm)

时间范围

1Hr~9999Hr

加压时间

0~1.0Kg/cm2,约需35min

控 制 系 统

控制器

*数显控制器

传感器

采用耐高温、高压铂金电阻

加热系统

钛合金电加热式加热器;采用加热系统与试验仓分离式

补水系统

手自一体的补水功能,保证试验不间断。

密封系统

*型packing设计使门与箱本更紧密結合,与传統挤压式*不同,可延长packing寿命.

箱体材质

外箱材质

SUS#304雾面线条处理不锈钢或高密度冷扎钢板纳米喷塑

内箱材质

SUS#316不锈钢;厚度:3~5mm;圆形设计,受压更均匀。

保温层

聚胺脂硬质发泡+岩棉

密封材质

耐酸碱、耐高压硅橡胶密封圈

标准配置

试品架2层

安全保护

进口耐高温密封电磁阀,采用双回路结构,保证压力无泄漏。

整机配备超压保护,超温保护,一键泄压,手动泄压多重安全保障装置,在大程度上保证用户的使用和安全。

 反压门锁装置,在试验仓內部有压力时,试验箱门无法打开.

电源电压

AC220V  50HZ   单相

使用环境

温度:5℃~35℃;湿度:≤85%R.H

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