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XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号XRF-2000L

品       牌

厂商性质代理商

所  在  地深圳市

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更新时间:2016-08-08 11:38:09浏览次数:288次

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x射线金属镀层测厚仪,镀层测厚仪,韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪(全新*)
详细: 
 

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x射线金属镀层测厚仪,镀层测厚仪XRF-2000L金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。

准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统:品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

电脑系统:IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

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