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BWGP-2000型变温光谱测试系统

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厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2021-02-25 10:16:15浏览次数:231次

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产地 国产 加工定制
BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 可以测试样品在低温和高温下光谱发射的变化情况,该仪器配置不同系能得光谱可以用于透射、反射、吸收光谱是样品谱与参比谱的比值,会降低原始光谱的信噪比

BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统 

   

          BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 可以测试样品在低温和高温下光谱发射的变化情况,该仪器配置不同系能得光谱可以用于透射、反射、吸收光谱是样品谱与参比谱的比值,会降低原始光谱的信噪比,因此需要光谱仪具有较高的信噪比;同时为了获取更多信息,需要光谱仪具有宽泛的光谱范围。荧光强度较弱,属于弱光信号,为了探测荧光光谱,一般需要高灵敏度的光谱仪需要对微米尺度的光谱信号进行采集,这需要光谱仪具有微弱光信号的检测能力。BWGP-2000是一款适合多种科研应用的光谱仪

一、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要用途:

  • 用于高低温下半导体发光波长在线检测
  • 用于高低温下手机面板透过率检测
  • 用于高低温下实验室微区样品透反射率检测
  • 用于高低温下薄膜透过率检测其他化合物检测
  • 用于高低温下纳米复合材料上转换荧光中的应用
  • 用于高低温下测试物体的颜色检测
  • 用于高低温下黑硅光电探测器研究中的应用
  • 用于高低温下液晶显示研究中的应用

二、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要特点:

  • 高低温测试系统可以任意设置温度
  • 电脑软件自动显示温度和光谱图

3、可以灵活搭配不同类型的光谱仪

二、BWGP-2000型变温光谱测试系统(高低温光谱系统) 主要技术参数:

1、温度:-150℃-600℃

2、探测范围:200~1100nm

3、波长分辨率:0.7 nm

4、光学分辨率:z 0.12nm (FWHM)

5、探测器: Hamamatsu,S10420 背照式

6、动态范围: 6,000:1

7、信噪比: 800:1 (饱和时)

8、杂散光: < 0.1% @ 600nm

9、光纤接口: SMA905

10、数据传输: USB-B,支持 USB2.0 通讯协议,480Mbps 传输速度

11、外部触发: 4 种触发模式

12、测温精度:0.1℃

13、外形尺寸:L360mm*W370mm*H510mm

14、    22KG

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