德国欧普仕optris CX hs LT测温仪 红外测温仪 返回列表页

optris CX hs LT型测温仪的技术参数 

测量参数 

• 温度量程（通过软件测量）： -20°C~150°C
• 光谱范围： 8 ~ 14 µm
• 光学分辨率（90%能量）： 15：1
• CF透镜（可选）： 0.8 mm @ 10 mm
• 系统精度（环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C）:  ± 1 % 或 ± 1 °C^1）
• 重复精度（环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C）:  ± 0.3% 或 ± 0.3 °C^1）
• 温度分辨率： 0.025 K (物体温度>20°C 和平均值 > 0.2 s)
• 响应时间（95％）： 150 ms（通过可选编程装置可调节999 s）
• 发射率/增益（通过软件调节）： 0.100 ~ 1.100
• 透射率（通过软件调节）： 0.100 ~ 1.100
• 信号处理（仅通过可选软件可调具体参数）：
  峰值保持、谷值保持、平均值，延长保持阈值和滞后功能

基本参数 

• 环境等级： IP65（NEMA-4）
• 环境温度： -20°C ~ 75°C
• 存储温度： -40°C ~ 85°C
• 相对湿度： 10~95%，不结露
• 震动： IEC 68-2-6: 3 G，11-200 Hz，任意轴
• 冲击： IEC 68-2-27: 50 G，11 ms，任意轴
• 重量： 350g

电气参数 

• 模拟输出： 4-20 mA
• 报警输出： 0-30 V/500 mA（常开）)
• 数字输出（可选）： USB
• 回路电阻： Max 1000 Ω^2）
• 电缆长度： 8m
• 电源： 直流5-30 V

版本 

零件编号： 温度量程/光谱范围/光学分辨率

• OPTCXHSLT15： -20-150 °C / 8-14 μm / 15:1

^1） 取较大值
^2） 根据电源电压

optris CX hs LT型测温仪的应用领域

optris CX hs LT型测温仪适用于对温差变化很小的测量，并用于准确测量至关重要产品的温度。

因此，它不仅用于半导体工业中，用于测试所配备的电路板的性能，而且也适用于在其他需要全方面而准确的非接触式温度测量的工业领域。