您好, 欢迎来到仪表网
产品简介
详细介绍
一、产品描述
SJ5718-R小型粗糙度测量仪是一款表面粗糙度测量仪器；采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能伺服电机系统、精密微小测力系统、高性能粗糙度测量模块、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面粗糙度的测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面粗糙度微观轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件粗糙度信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对粗糙度进行各种参数分析。
SJ5718-R为全自动测量设备，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击【开始】按钮，测针会自动接触工件表面，并按设定的位置扫描；可高精度地测量精密加工零部件的粗糙度形状，再选择所需评价参数即可进行评价。
系统软件为简体中文操作系统，操作方便。
二、产品功能
1.表面粗糙度评定：
(1)Ra,Rp,Rv,Rz,Rt,Rmax,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr；
(2)P（Pt/Pa）等参数、W参数等多参数评定；
(3)Motif参数、Rcore核心参数的评定。
2.滤波：2RC滤波，高斯滤波和零相位滤波；
3.界面友好，更符合中国用户操作习惯；
4.测量记录采用集中式数据库管理，可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录；
5.输出多种格式报表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持的自定义报表，定制测量记录报表，可批量打印记录表，具有数据备份和还原数据库功能；
6.具有强大的CNC功能，能进行一系列高效率的CNC测量及分析，具备SPC分析功能；
7.成熟简单的标定，仪器自带高精度标定多刻线样块，可对仪器的精度和测针磨损进行精确补偿；
三、性能特点
1、高精度、高稳定性、高重复性：满足被测件测量精度要求
1)选用的高精度光栅测量系统和高精度电感测量系统，测量精度高；
2)自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作；
3)高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。
2、智能化管理与检测软件系统：
仪器操作界面友好，操作者很容易即可基本掌握仪器操作，使用十分简便。
1)公司多年积累的实用测量软件设计经验，向客户提供简洁、实用、快速的操作体验；
2)公司投入多年人力研发仪器软件，具有专用的软件著作权；
3)功能强大、自动处理数据、打印各种格式的报告，自动显示、打印、保存、查询测量记录；
数据可存档，或集中打印，不占用检定操作时间；
4)测量范围广，可满足几乎所有类型的工件粗糙度测量、包括特殊薄膜台阶高度的测量功能；
5)可自动和手动选取被测段进行评定，可依据客户要求进行软件功能的定制；
6)强大的CNC自动测量及自动标注分析功能；
针对同类型大批量的工件，能进行CNC测量，自动分析处理数据，并将数据进行SPC统计，能进行多种方式统计分析，给予品质控制指导；
7)采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检定结果。
3、可进行多参数评定
粗糙度可依据不同标准进行自动评价，包含Ra,Rp,Rv,Rz,Rt,Rmax,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc, Rmr及P参数、W参数、Motif参数、Rcore核心参数等多参数评定。
4、厚度参数测量
粗糙度参数测量的同时可同时测量600微米以内的一些薄膜台阶高度、厚度尺寸，测量方便，精度控制在2%H（H，测量总高度）以内，特别适合高精度且不能有刮伤的测量场合。
5、智能保护系统：
仪器在各个方向都有进行硬件及软件保护，能有效的保护仪器主机及测针，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。
6、灵活手动控制：
仪仪器配置了特殊分离式操作杆，操作杆在仪器操作移动时，可放置在任何位置控制操作，在测量工件前对测针进行粗定位；在脱离电脑的情况下，操作杆具备左右/上下移动测针、急停、测杆上下角度摆动及速度分多级调节功能。
四、技术参数
| 型号 | SJ5718-R | ||
| 粗糙度参数 | 测量 范围 | X轴 | 0~100mm |
| Z轴 | 0~300mm | ||
| 移动速度 | X轴 | 0~20mm/s | |
| Z轴 | 0~20mm/s | ||
| 直线度（X扫描轴） | ≤0.3μm/50mm，≤0.5μm/100mm | ||
| 测力 | 约1~2mN | ||
| 测量范围 | Z0轴 | ±20µm~±400µm | |
| 传感器类型 | 无轨式 | ||
| 适用测量范围 | Ra0.1μm~Ra64μm | ||
| 分辨率 | X轴/ Z0轴 | 分辨率0.001μm | |
| 测量精度 | 示值误差 | ≤±（5nm+2.5%A）μm | |
| 重复性 | ≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块) | ||
| 扫描速度 | 0.05～0.5mm/s | ||
| 残值噪声/残余轮廓 | ≤0.005μm | ||
| 测量参数 | R粗糙度： Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr, 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL | ||
| 滤波器 | 高斯滤波器、2RC滤波器，相位修正滤波器 | ||
| 滤波长度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可选 | ||
| 评定长度 | λc×3、4、5、6、7、8可选 | ||
| 仪器尺寸（长×宽×高） | 600×350×850（mm） | ||
| 仪器重量 | 约95Kg | ||
恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。
其他推荐产品
更多产品-
面议
-
面议
仪表网