深圳市井泽贸易有限公司
中级会员 | 第7年

13823610878

当前位置:深圳市井泽贸易有限公司>>工业测定、测量用品>>hitachi日立>> NX9000正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 显微镜/望远镜

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 显微镜/望远镜

参   考   价: 2888

订  货  量: ≥1 

具体成交价以合同协议为准

产品型号NX9000

品       牌

厂商性质经销商

所  在  地深圳市

更新时间:2022-10-15 09:36:00浏览次数:1882次

联系我时,请告知来自 仪表网

王小姐

业务
扫一扫,微信联系
同类优质产品更多>
产地 进口 加工定制
适用行业 其他
正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统
通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构

深圳市井泽贸易有限公司

胡经理

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 

NX2000  NX9000

追求理想的三维结构分析

通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。
采用理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。

  • SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,形成三维结构分析理想的镜筒布局
  • 融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统,从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品
  • 通过选配口碑良好的Micro-sampling®系统*和Triple Beam®系统*,可支持制作高品质TEM及原子探针样品
项目内容
SEM电子源冷场场发射型
加速电压0.1 ~ 30 kV
分辨率2.1 nm@1 kV
1.6 nm@15 kV
FIB离子源
加速电压0.5 ~ 30 kV
分辨率4.0 nm@30 kV
大束流100 nA
标准探测器In-colum二次电子探测器/In-colum背散射电子探测器/
样品室二次电子探测器
样品台X0 ~ 20 mm *2
Y0 ~ 20 mm *2
Z0 ~ 20 mm *2
θ0 ~ 360° *2
τ-25 ~ 45° *2
大样品尺寸正方形边长6 mm × 厚度2 mm

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~
在线留言