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三维光学面扫描系统-光学仪器

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产品型号XTOM

品牌

厂商性质生产商

所在地苏州市

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更新时间：2018-01-24 13:54:31浏览次数：335次

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XTDP — 工业近景摄影测量系统

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苏州西博三维科技有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：8条

所在地区：江苏苏州市

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产品简介

产地	国产	加工定制	是

XTOM——三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，测量精度、测量速度等性能都比较高，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高，抗*力强、受被测工件表面明暗影响小，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。

详细介绍

XTOM——三维光学面扫描系统

XTOM——三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，测量精度、测量速度等性能都比较高，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高，抗*力强、受被测工件表面明暗影响小，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。

XTOM——应用范围

逆向设计：快速获取零部件的表面点云数据，建立三维数模，从而达到产品快速设计的目的。
产品检测：生产线产品质量控制和形位尺寸检测，特别适合复杂曲面的检测，可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
其他应用：文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。

功能特色

扫描预览，实时跟踪标志点
针对不同幅面的标定板，灵活的相机标定
扫描结果三维显示，灵活的三维显示控制
坐标转换功能
具备光学探针功能
321坐标转换功能
具备点距测量功能
具备多种后处理功能，包括点云精确匹配、重叠面自动融合等
具备多种元素拟合功能：点、线、面、球、圆柱、圆锥等
具备多种偏差分析功能：点偏差、距离偏差、角度偏差等

　规格型号


产品型号	TOPSCAN-TC 单目型	TOPSCAN-MIC 教育型	TOPSCAN-EDU 教育四目	TOPSCAN-ET 工业型
相机像素	1×1300000 ~2000000	2×1300000 ~2000000	4×1300000~2000000	2×1300000 ~4000000
扫描范围	128×96mm 400×300mm	32×24mm 64×48mm 128×96mm	128×96mm 400×300mm	128×96mm 400×300mm 800×600mm
测量精度	0.02 ~0.04mm	0.008~0.015mm	0.03~0.05mm	0.015~0.03mm
采样点距	0.15 mm~0.3mm	0.08~0.15mm	0.12~0.25mm	0.10~0.25mm
扫描方式	非接触式扫描
输出格式	ASC，STL、PLY
扫描时间	3~5S
拼接方式	标志点全自动拼接，手动选点拼接