Werth TomoScope L X射线断层扫描复合测量中心 返回列表页

Werth将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。X射线断层扫描复合测量中心，对工件内外部所有结构尺寸全面的精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。

Tomo测量机（X射线断层扫描复合测量中心）主要特点：

◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆ 可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探针、光纤、激光等）
◆ Werth公司所有技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快
◆ Werth公司的X射线传感器独自校准系统
◆ Werth公司的栅格断层扫描技术：
  精密测量微小部件
  扫描更大尺寸工件，提高分辨率
  扩展测量范围
◆ 测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆ 测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆ 选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单
◆ 可使用Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆ 广泛应用于复杂尺寸测量，评估，逆向工程，质量控制等

扫描坐标测量过程：

应用领域:

  模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶、等等。