N5900超级电容Pack寿命测试仪-电子/半导体检测仪器 返回列表页

N5900为NGI公司针对超级电容Pack研发和生产而自主设计开发的测试系统。N5900可对超级电容Pack充电容量、放电容量、等效串联内阻（DCIR）、能量转换效率、循环寿命、温度等电气参数进行高精度测试测量。支持多通道并行测试，单通道功率大支持到500KW。N5900上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据、EXCEL、JPG文件。

功能和特点：

•     ■  充放电模式：CC/CV/CP/CC-CV/CV-CC；

      ■  响应速度快，采样率高，充放电无缝切换，适用各种规格的超级电容Pack；
      ■  量程范围：0-1200V、0-2000A、0-500KW；

      ■  多通道集中控制，通道间独立运行；

      ■  *报警及保护措施，有效防止产品过充、过放；

      ■  标准化模块设计，拓展性强，维护便捷；
      ■  超高精度，超高稳定性；

      ■  支持用户自定义测试流程；

      ■  智能测试步骤编辑，提高配置效率；

      ■  标准19机箱，节省宝贵空间。