影响单色仪测量的几个因素

    随着光伏产业的高速发展，对硅晶片线切割用碳化硅的需求日益增加，硅晶片线切割用碳化硅粉是太阳能电池硅晶片生产中不可或缺的专用材料，具有巨大的国内外市场，经济效益良好。单色仪目前国内主要还是以绿碳化硅微粉为主，因为其本身的特质决定了其更适合用于光伏、半导体晶硅片的切割刃料环节。

 

    碳化硅微粉是用于多线切割机上的磨料之一，微粉的粒型及粒度是硅片表片的光洁程度和切割能力的关键。单色仪，碳化硅微粉的粒型及粒度、砂浆的黏度、砂浆的流量、钢线的速度、钢线的张力以及工件的进给速度等。传感器采用经典光阻测量颗粒专用传感器，更加适合于NAS1638和ISO4406。内置阈值、粒径曲线和脉冲阻值,可设定通道粒径值。

 

    在铝矿的主成份铁铝氧石中，氧化铝的含量高。氧化铝是金属铝在空气中不易被腐蚀的原因。纯净的金属铝极易与空气中的氧气反应，生成一层致密的氧化铝薄膜覆盖在暴露于空气中铝表面。这层氧化铝薄膜能防止铝被继续氧化。这层氧化物薄膜的厚度和性质都能通过一种称为阳极处理（阳极防腐）的处理过程得到加强。铝为电和热的良导体。氧化铝的晶体形态因为硬度高，适合用作研磨材料及切割工具。氧化铝粉末常用作色层分析的媒介物。仪表误差：由分压器本身及其附件所引入，出于仪器的电气或机械性能不完善所产生的误差。单色仪，比如：仪器，仪表的零位偏移，刻度不准确，以及非线性等引起的误差均属于仪器误差。

 

    颗粒越小，产生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的；大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的，进一步研究表明，散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。白光干涉测厚，这样，测量不同角度上的散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了。为了测量不同角度上的散射光的光强，需要运用光学手段对散射光进行处理。

 

    选择合适的分散剂是当今研究的热点，而分散剂中使用多的是表面活性剂。表面活性剂的类型主要有：阴离子表面活性剂、阳离子表面活性剂、两性表面活性剂、非离子表面活性剂、特殊类型表面活性剂等。单色仪，粉体在水中

 

    通常是带电的，加入具有同种电荷的表面活性剂，由于电荷之间的相互排斥而阻碍了表面吸附，从而可达到分散粉体的目的。不同的表面活性剂对不同种类的粉体分散效果不同，在测定时要比较几种表面活性剂的分散效果，后确定一种理想的表面活性剂。单色仪，分散剂的浓度对测定结果也有一定影响，使用时应加以控制。以聚丙烯酰胺为例，比较不同分散剂浓度下的玻璃粉体分散效果。试验过程中发现，分散剂浓度过高时，溶液内发生了絮凝现象(这也是导致粒度测定结果升高的原因之一)。采用精密四项混合式步进电机组成光路自动对中系统，微动精度达到微米级别，使仪器光路始终处于醉佳状态。

 

    白光干涉测厚，我们在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜，在该富氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器，不同角度的散射光通过富氏透镜照射到多元光电探测器上时，光信号将被转换成电信号并传输到电脑中，通过济南微纳专用软件对这些信号进行处理，就会准确地得到粒度分布了。

 

    不同材料不同工艺的产品对原材料的粒径要求也不尽相同，一般分布在1-20um范围内。负极材料以石墨为例，当其平均粒径为16-18um，且粒度分布较为集中时，电池有较好的初放容量及效率。单色仪，

 

    锂离子电池的正极材料，粒径D50是关键性的质量控制指标之一，无论是磷酸铁锂电极还是其他主流锂合金氧化物电极都不例外。单色仪，D50是表示粒径大小的典型值，其标准定义是累计分布百分数达到50%时对应的粒径值，又名中值粒径、中位径。电池正极对原材料的粒径要求波动范围较大，一般在1-20um之间。颗粒在空气中可以采用干法分散技术。单色仪，干法分散的核心部件是分散泵,分散泵的作用：利用气源的高速气流形成的负压把干燥粉末吸入泵体与气体混合；

 

    单色仪的测量方法有很多种，如：筛分法、沉降法、图像法、激光散射法粒、库尔特法等。在实验室的应用中，筛分法和激光散射法是比较常用的两种粒径测量手段。但是一直以来，这两种方法测量的可比性存在较多问题。白光干涉测厚，筛分法是颗粒粒径测量中通用也直观的方法。