不同称重传感器的工作原理

　　电阻应变式称重传感器

 

　　称重传感器中的电阻应变片具有金属的应变效应，即在外力作用下产生机械形变，从而使电阻值随之发生相应的变化。电阻应变片主要有金属和半导体两类，金属应变片有金属丝式、箔式、薄膜式之分。半导体应变片具有灵敏度高（通常是丝式、箔式的几十倍）、横向效应小等优点。

 

　　压阻式称重传感器

 

　　压阻式称重传感器是根据半导体材料的压阻效应在半导体材料的基片上经扩散电阻而制成的器件。其基片可直接作为测量传感元件，扩散电阻在基片内接成电桥形式。当基片受到外力作用而产生形变时，各电阻值将发生变化，电桥就会产生相应的不平衡输出。

 

　　用作压阻式称重传感器的基片（或称膜片）材料主要为硅片和锗片，硅片为敏感材料而制成的硅压阻称重传感器越来越受到人们的重视，尤其是以测量压力和速度的固态压阻式称重传感器应用zui为普遍。

 

　　热电阻称重传感器

 

　　热电阻称重传感器主要是利用电阻值随温度变化而变化这一特性来测量温度及与温度有关的参数。在温度检测精度要求比较高的场合，这种称重传感器比较适用。目前较为广泛的热电阻材料为铂、铜、镍等，它们具有电阻温度系数大、线性好、性能稳定、使用温度范围宽、加工容易等特点。用于测量-200℃～+500℃范围内的温度。

 

　　称重传感器的迟滞特性

 

　　迟滞特性表征称重传感器在正向（输入量增大）和反向（输入量减小）行程间输出-一输入特性曲线不一致的程度，通常用这两条曲线之间的zui大差值△MAX与满量程输出F·S的百分比表示。

 

　　迟滞可由称重传感器内部元件存在能量的吸收造成。

 

　　压电效应是压电称重传感器的主要工作原理，压电称重传感器不能用于静态测量，因为经过外力作用后的电荷，只有在回路具有无限大的输入阻抗时才得到保存。实际的情况不是这样的，所以这决定了压电称重传感器只能够测量动态的应力。