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激光粒度仪之光学系统的特点
2021-01-12标签：激光粒度仪
“特定尺寸”被确定为用于测量的光波长的倍数，通常约为20微米。大于这个尺寸的粒子通过衍射而不是折射传递有用的尺寸信息。这意味着测量不会从使用折射率准确地解释折射光对于小于20微米的颗粒，折射光对于精确计算颗粒尺寸变得越来越重要。
散射光相对低强度和广角对于这些较小的粒子。折射率的使用和米氏散射理论直接影响此尺寸范围内的精度。所有HORIBA激光粒度仪默认使用Mie散射解决方案，并允许用户输入自定义折射率值。
激光粒度仪的特点：光学系统
激光衍射粒度分析的基本工作流程分为两部分：测量散射光的角度和强度将散射数据转换为粒度分布测量质量与分析仪本身有关：部件质量、工程改进和反映基本原理的基本设计。
核心技术都是成熟的，但正如许多东西一样，更高的质量导致了卓越的性能。典型的激光衍射光学系统包括：两个不同波长的光源80个光电探测器，角度范围约为0-170度高质量的镜片和镜片LA-960粒度分析仪代表第十代HORIBA公司设计的激光衍射仪。
激光粒度仪为了提高性能和可用性，对基本设计进行了数百次改进。这些改进包括：免维护、无尘密封光学工作台最大的稳定性和对准无柱，铸铝安装倾斜测量单元降低杂散光噪声超长寿命固体光源和探测器获得最佳的散射光数据是任何可靠尺寸测量的基础。“原始”散射光数据然后被传递到计算算法，在那里它将被转换成一个粒度分布。
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