原子力显微镜是一种用来研究材料表面结构的分析仪器。它通过待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质，从而在扫描样品时获得样品表面纳形态的纳米级结构信息及粗糙度信息。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜可以提供全面的原子力显微功能，包含所有常规成像模式，*的三轴独立闭环扫描器能获得既具有高分辨率又仅有低噪音的高质量图像，*避免了传统的管式扫描固有的耦合误差等缺陷。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜安装简单，操作方便，预装悬臂使原子力探针安装一步到位，自动下针，软件移动样品台实现高效率区域定位，界面简单，没有复杂的软件界面和参数设置。只需要简单的几个参数设计就可以快速成像，强大的光学显微镜和直观的软件使用户非常方便的获取样品表面图像信息，
瑞宇科技的AFM+扩展功能强大，可以与多种模块结合，完成纳米级的红外光谱分析、红外吸收光谱成像、电学，磁学，纳米力学等各种材料微区物理性能的表征，应用范围非常广泛。是实现现代材料纳米尺度研究zui基本的研究手段之一。
瑞宇科技的AFM+具有热探针技术，配备的纳米热分析模块，可提供纳米尺度热转变温度测量和原位热加工，方便快速的对软质材料如共混物/混合物/多层膜等进行局部热分析鉴定。
瑞宇科技的AFM+和LCR力学性能检测模块结合，可以进行快速宽频的纳米机械光谱分析，多组分试样能够在多种频率下成像，每种成分都能够被单独的识别和成像，方便快速的获得异质材料如共混物、混合物等各组分的分布情况。
瑞宇科技的AFM+可以进一步升级具有纳米尺度红外光谱检测（nanoIR）或散射式光学近场显微镜功能（s-SNOM），nanoIR将红外光谱技术和原子力显微镜结合到一起，具有100nm以下红外光谱采集和红外吸收成像能力。s-SNOM具有10nm分辨率近场光学成像能力。升级后，系统可同时具有表面形貌表征、热转变温度检测、力学性能检测和微区成分检测功能。
主要参数：
平面扫描范围：<80x80um
平面分辨率：<0.2nm
纵向扫描范围：>6um
纵向分辨率：<0.2nm
高度噪音：<50pm
载物台：7mmx9mm，马达自动控制
工作模式：接触模式、非接触模式、敲击模式
标准模块：相位、横向力（摩擦）、力曲线、力调制、静电力和磁力模块
选配模块：导电力模式，表面电势模块
光学分辨率：1.5um
光学显微镜zui大可视场： ～900x600um
应用：
生物研究，生物细胞表面形态观察
晶体生长机理研究
金属及半导体表面形态、表面重构、表面电子态研究
现场电化学研究
各类粉体材料及多晶固体材料的微区形貌表征及纳米性能研究
高分子等复合材料应用的纳米微区形貌和性能表征研究
电池材料、催化剂材料、纳米材料的微区形貌与性能分析
