ENJ2005-B 半导体分立器件测试系统-电子/半导体检测仪器

ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列

系统概述：

    设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补

偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。

    面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

系统特征：

● 测试范围广（19大类，27分类）

●升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A

● 采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS

● 被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏

● 真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大）

● 系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障

● 二极管极性自动判别功能，无需人工操作

测试参数：

漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

击穿参数：BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

增益参数：hFE、CTR、gFS、

导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

关断参数：VGSOFF      

触发参数：IGT、VGT

保持参数：IH、IH+、IH-

锁定参数：IL、IL+、IL-

基础配置：