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菊水电子工业株式会社，成立于1951年。公司产品为各种电子测试仪，产业用电源装置，软件的设计和制造销售及其进出口。主要产品为直流电源装置，交流电源装置，电子负载装置，通信设备测试仪，耐压测试仪，绝缘测试仪，接地导通测试仪，泄漏电流测试仪，校准器，信号发生器，以及其他各种电子测试仪。
TOS7210S(SPEC80776)PID绝缘测试仪是为准确有效地对太阳能电池模块的PID（Potential Induced Degradation）现象进行评估，以绝缘电阻测试仪（TOS7200）为基础设计而成的测试仪。 附有极性切换功能，输出电压可达2000V,同时装载了n*分辨率的电流表，因此不仅可以进行PID评估，还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。
什么是PID现象？
PID现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压，电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高，越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V，一旦直接连接的片数增加，串内的电位差将变得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接（一侧电极不能接地线）的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是，晶体硅太阳能电池模块中，相对于边框（接地线）负极电位高的电池容易发生PID现象。（请参照图1）目前，日本国内以大600V、欧洲以大1000V的系统电压运行太阳能电池模块，但是目前出现了提高大系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数，提高发电效率的趋势。
图2模拟了晶体硅太阳能电池模块的处于高电位差的状况。边框为正极电位、模块电路处于负*电位的状况。目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。（薄膜太阳能电池模块也被确认出现PID现象，但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。）现在，各种研究机构正在通过研究、试验查找PID现象的原因。
产品特长
● 可任意设定输出电压
可将对被检品施加的测试电压设定在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范围内。假设太阳能发电系统的电压在1000V以上，可对其进行评估。此外，在电气/电子部件、电气/电子设备的绝缘电阻测试中，也可对应JIS C 1302: 1994所规定的电压范围以外的测试。在50V-1000V范围内，输出特性以JIS C 1302: 1994为基准。
● 极性切换功能
可通过主机面板的开关轻松切换输出极性。PID现象是一种可逆现象，施加负偏压电压可能会恢复。极性切换是一项不需要对被检品实施配线变更的便利功能。此外，通过RS232C接口可实施由外部控制的切换。
● 建立输出端的浮地
输出端子与接地电位间为浮地状态(*1)。此外，使用屏蔽电缆作为输出电缆 (TL51-TOS)。这样就不会测量被检品与大地间的电流，只测量测试点间的电流，可确保评估测试的高敏感度和精确性。
*1：设定为正极的端子的对地电压（±1000Vdc）设定为负极的端子的对地电压（+1000Vdc及-3000Vdc）
● 模拟输出端子
在电阻显示模式中，基于对数压缩将对应电阻测量值的电压输出限制在0V-4V之间。在电流显示模式中，对应电流测量值及测量量程（4个量程）按线性标度输出。使用数据记录器等外部记录设备可对被检品的变化、劣化状况进行解析。
产品阵容
| 型号 | 规格 |
|---|---|
| TOS7210S (SPEC80776) | PID绝缘测试仪（TOS7210S）是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估, 以绝缘电阻测试仪（TOS7200）为基础设计而成的测试仪, 可在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范围内实施设定, 可通过面板侧的开关即时切换施加电压极性, 输出端子与接地电位间为浮地状态, 只测量通过测量点间的电流. 可对电流测量值或电阻测量值进行切换显示, 测试线（TL51-TOS）包括 |
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